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ARM 显微角分辨光谱仪
光学分析
0.5°角度分辨率、微区检测、低温磁场、1700nm 近红外扩展
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产品详情

ARM 是一款基于傅里叶光学变换技术的显微角分辨光谱系统，可应用于微纳光学领域的研究，包括 :

◎光子晶体材料 ◎超构材料

◎纳米天线 ◎微腔光子器件

◎结构色 ◎超表面透镜

◎纳米光刻 ◎钙钛矿

产品参数

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